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MAYO 2025 - Volumen: 100 - Páginas: 260-266
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El presente artículo aborda el tema de Diagnóstico Activo en Sistemas de Eventos Discretos (SED) representado como Redes de Petri Interpretadas (RPI), que han sido utilizadas para modelar un Sistema Automatizado de Manufactura (AMS) donde mediante técnicas de control supervisor de Moody se ha impuesto la propiedad de la diagnosticabilidad. Además, se implementa un esquema de diagnóstico de faltas mediante residuos en un AMS controlado por un PLC marca Mitsubishi, que es monitoreado por un sistema embebido capaz de medir la corriente en los actuadores, con el fin de compartir información al diagnosticador mediante el protocolo de comunicación Modbus para incrementar su fiabilidad en el dictamen.Palabras Clave: Redes de Petri Interpretadas, Diagnóstico Activo, Factory IO, diagnosticabilidad, diagnóstico de faltas.
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