DYNA JOURNAL ENGINEERING

Key words:

[No data]

Article type:

ARTICULO DE INVESTIGACION / RESEARCH ARTICLE

Section:

VARIOUS

El microscopio electrónico de barrido (S. E. M.) es, en la actualidad, el más poderoso instrumento para el estudio de las superficies de los sólidos. Aunque no tiene la resolución del microscopio electrónico de transmisión (T. E. M.), ésta es más de 50 veces mayor que en el microscopio óptico, siendo su principal característica su gran profundidad de campo, lo que dota a las imágenes obtenidas de un gran contenido informativo. La diferencia realmente importante entre el S. E. M. y el T. E. M. o el microscopio óptico reside en los diferentes mecanismos de codificación de la información.Tanto el T. E. M. como el microscopio óptico enfocan la radiación incidente, electrones o fotones, sobre el objeto en la imagen amplificada; están limitados a usar la radiación incidente y cualquier información puede codificarse en ella. En el caso del microscopio óptico, esta información está relacionada con el número y longitud de onda de los fotones transmitidos, difractados o reflejados por el objeto. En el T. E. M. esta información está relacionada con el «scattering» y dificceión de los electrones por un objeto muy delgado. En el S. E. M., la radiación incidente no es recogida en la imagen después de incidir sobre el objeto, y por tanto, cualquier señal producida por el haz de electrones que interacciona con el objeto puede usarse como fuente de información. Los únicos límites son: esta señal debe poderse convertir en una señal eléctrica y no debe persistir más tiempo del que el haz electrónico reside en un elemento superficial del objeto, ya que, en caso contrario, la imagen resultaría borrosa.